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新產品網絡研討會|飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL G2

 更新時間:2020-05-25 點擊量:2271

如今,許多行業正在通過多功能臺式掃描電子顯微鏡(SEM )自動化其質量控制流程。通過流程自動化,用戶可以避免耗時的任務并減少人為失誤的風險,從而確保優質的產品到達客戶手中。

 

重復的工作流程會拖延您的時間嗎?數據收集和分析是否繁瑣耗時?借助飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2,您可以快速獲得所需的準確信息,減少故障,避免延誤,保持生產過程順利進行。

 

 

在網絡研討會中,我們展示了如何使用新一代自動化掃描電鏡來改善質量控制過程。

 

 立即觀看網絡研討會 

 

通過網絡研討會,您將學習如何:

· 獲得所需的質量信息,提早發現故障,迅速調整生產過程。
· 通過飛納全自動臺式掃描電鏡(SEM),使質量控制自動化,提高生產效率,減少人為失誤。
· 全新的易于學習的界面可以幫助您快速掌握新信息,是各種應用的理想選擇。

傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

地址:上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5,705 室

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