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PhenomPro掃描式電子顯微鏡

 更新時間:2016-05-19 點擊量:3968
   掃描式電子顯微鏡(SEM)是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態,即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發射。掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。
  PhenomPro(掃描式電子顯微鏡)是Phenom(飛納)產品中zui*的型號,在繼承了Phenom(飛納)*代(G1)產品操作方便、30秒快速成圖像、售后無憂等優點的同時,電鏡分辨率和圖像質量顯著提高。采用了壽命高達1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高,功能更全的光學顯微鏡,提高后的光學顯微鏡有聚焦功能,放大倍數在20-120倍之間,具備明場和暗場兩種模式。
  掃描式電子顯微鏡大倍數:20×-130,000×。
  分辨率:優于17nm。
  電子槍:1500小時CeB6燈絲。
  抽真空時間:10秒。
  樣品移動方式:自動馬達樣品臺。
  樣品定位方式:光學和低倍電子雙重導航。
  樣品導電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體。
  拓展功能:顆粒分析系統、3D粗糙度重建、纖維統計測量、孔徑測量系統、高倍拼圖等。
  環境掃描選件(ESEM):溫控樣品臺,可直接觀測液體。

傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

地址:上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5,705 室

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